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ic成品測(cè)試詳細(xì)分類(lèi)
發(fā)布時(shí)間：2018-12-19 18:25:11
IC測(cè)試一般分為物理性外觀測(cè)試（Visual Inspecting Test），IC功能測(cè)試（Functional Test）,化學(xué)腐蝕開(kāi)蓋測(cè)試（De-Capsulation），可焊性測(cè)試（Solderbili ty Test），直流參數(shù)（電性能）測(cè)試（Electrical Test）, 不損傷內(nèi)部連線(xiàn)測(cè)試（X-Ray），放射線(xiàn)物質(zhì)環(huán)保標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試（Rohs）以及失效分析（FA）驗(yàn)證測(cè)試。
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